中国科学A辑:数学 2009, 39(6) 741-748 DOI:     ISSN: 1006-9232 CN: 11-1786/N

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成败型寿命试验
I型区间删失
Weibull分布
随机效应
余双对数连接函数
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赵慧
于丹
PubMed
Article by Diao, H.
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可靠性综合评估中的一个广义线性随机效应模型

赵慧,  于丹

① 华中师范大学数学与统计学学院, 武汉 430079 ② 中国科学院数学与系统科学研究院, 北京 100087

摘要

本文提出了一个广义线性随机效应模型, 通过综合来自不同储存环境下的同源产品的试验数据信息来评估一类高可靠小样本产品的储存寿命, 并给出了相应的算法. 模拟结果显示了本文提出的模型及方法的合理性和有效性.

关键词 成败型寿命试验   I型区间删失   Weibull分布   随机效应   余双对数连接函数  

Abstract:

Keywords:
收稿日期 2007-08-13 修回日期 2008-12-04 网络版发布日期  
DOI:
基金项目:

国家自然科学基金(批准号: 10571070)和中国博士后科学基金(批准号: 20060400514)资助项目

通讯作者:
Email: hzhao@mail.ccnu.edu.cn
作者简介:

参考文献:
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