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陈智慧 |
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包含集总模型的ADI-FDTD扩展算法的数值稳定性
陈智慧, 褚庆昕
本文利用Von-Neumann技术系统地研究了包含集总模型的ADI-FDTD扩展算法的稳定性问题, 其中集总模型包括电阻、电容和电感. 集总模型伏安特性方程按显式、半隐式和隐式三种差分格式进行差分. 分析结果表明：集总模型按显式格式差分时, ADI-FDTD扩展算法不是无条件稳定的，稳定性条件受集总元件值的影响, 而在半隐式和隐式差分格式下, 扩展算法是无条件稳定的. 最后通过分析两个简单的包含集总元件的微带电路, 验证了理论结果的正确性.
国家自然科学基金(批准号: 60171011和60571056)资助项目